技术支持目录
最新资讯
一、核心检测技术
自适应光量控制
通过内置微处理器实时优化投光量与受光增益(动态范围达 10 万倍),可稳定检测高反射率(如镜面金属)、低反射率(如黑色橡胶)及透明材质,支持 0.1mm 级微小物体检测。
智能背景抑制:通过限定反射模式消除背景干扰,确保在复杂环境(如金属台面、多色输送带)下的可靠检测。
多模式检测适配
三种检测模式:扩散反射型(0.5~100mm)、限定反射型(10~200mm)、透过型(0.5~5m),满足不同距离与材质需求。
高精度对射功能:支持长距离稳定检测,适用于高速生产线或大型工件定位。
二、智能操作与可视化
一键自动设定(Auto Tuning)
按 STUNE 键即可完成阈值与光量的自动优化,无需人工干预,支持 2 点教导模式(标准 / 高灵敏度)。
实时数值显示:通过 4 位 LED 实时显示入光量(0~9999 级)与阈值,便于调试与监控。
远程参数管理
支持通过通信模块(如 RS-485)实现多台设备集中配置与状态监控,降低维护成本。
三、结构设计与可靠性
紧凑轻量化
放大器尺寸仅 20mm×20mm×58mm,支持 DIN 导轨或面板安装,分离式光纤探头适配狭小空间。
耐用光纤类型:兼容塑料光纤(耐弯曲)与玻璃光纤(高精度),适应严苛安装环境。
高防护与抗干扰
IP67 防护等级:光纤探头与放大器均防尘防水,可在油污、粉尘或潮湿环境中稳定工作。
抗电磁干扰(EMI):屏蔽设计有效抵御变频器、电机等设备的干扰。
四、功能扩展与输出配置
灵活输出选项
双路独立输出:NPN/PNP 集电极开路输出,支持逻辑切换(OR/AND 模式),满足复杂控制需求。
模拟量输出(0~10V):实时反馈检测值,适用于过程监控与质量追溯。
动态响应优化
响应时间低至 1ms,支持高速生产线检测;输出 ON/OFF 延时可调(0~1000ms),适配动态场景。
五、典型应用场景
电子制造:精密元件计数、SMT 贴装检测。
汽车工业:线束端子定位、仪表盘指针检测。
包装行业:透明薄膜位置检测、铝箔包装缺陷识别。
物流分拣:包裹尺寸测量、高速传送带物体追踪。
总结
E3X-ZD 以智能自适应检测与高可靠性为核心,通过一键设定与模块化设计,显著降低调试难度与维护成本。其宽动态范围与多模式检测能力,尤其适合需要应对复杂材质与环境的工业自动化场景,是替代传统光纤传感器的理想选择。